Surface characterization of transparent conductive oxide Al-doped ZnO films
文献类型：期刊论文
| 作者 | Chen, M ; Pei, ZL ; Sun, C ; Wen, LS ; Wang, X |
| 刊名 | JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH
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| 出版日期 | 2000 |
| 卷号 | 220期号:3页码:254-262 |
| 关键词 | THIN-FILMS OPTICAL-PROPERTIES ELECTRICAL-PROPERTIES RF DC DEPOSITION |
| ISSN号 | 0022-0248 |
| 通讯作者 | Chen, M, Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Met, Ion Beam Lab, Shanghai 200050, Peoples R China |
| 学科主题 | Crystallography; Materials Science, Multidisciplinary; Physics, Applied |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2012-03-24 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/95819]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Chen, M,Pei, ZL,Sun, C,et al. Surface characterization of transparent conductive oxide Al-doped ZnO films[J]. JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH,2000,220(3):254-262. |
| APA | Chen, M,Pei, ZL,Sun, C,Wen, LS,&Wang, X.(2000).Surface characterization of transparent conductive oxide Al-doped ZnO films.JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH,220(3),254-262. |
| MLA | Chen, M,et al."Surface characterization of transparent conductive oxide Al-doped ZnO films".JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH 220.3(2000):254-262. |
入库方式： OAI收割
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