Al_XGa_(1-X)As俄歇定量分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 高培德 ; 章纯思 ; 毕联训 |
| 刊名 | 真空科学与技术
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| 出版日期 | 1984 |
| 期号 | 03 |
| ISSN号 | 1672-7126 |
| 中文摘要 | 本文提供一种较精确的表面微区俄歇定量分析方法——组元素标样法,并在两个系统中对具有0.0 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-29 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/103739]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 高培德,章纯思,毕联训. Al_XGa_(1-X)As俄歇定量分析[J]. 真空科学与技术,1984(03). |
| APA | 高培德,章纯思,&毕联训.(1984).Al_XGa_(1-X)As俄歇定量分析.真空科学与技术(03). |
| MLA | 高培德,et al."Al_XGa_(1-X)As俄歇定量分析".真空科学与技术 .03(1984). |
入库方式： OAI收割
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