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ArF准分子激光立方氮化硼薄膜的制备

文献类型:期刊论文

作者辛火平 ; 陈逸清 ; 石晓红 ; 许华平 ; 林成鲁 ; 邹世昌
刊名中国激光
出版日期1995
期号08
关键词K1 脉冲激光沉积 立方氮化硼 六方氮化硼
ISSN号02587025
其他题名T1 ArF准分子激光立方氮化硼薄膜的制备
中文摘要采用ArF准分子脉冲激光沉积方法(PLD),以六方氮化硼(h-BN)作靶在Si(100)衬底上制备氮化硼薄膜。XRD及FTIR透射谱测量表明生成的氮化硼薄膜是含有少量六方氮化硼结构的立方氮化硼(C-BN).AES测量表明不同条件下生成的薄膜中N与B的相对含量是不同的,最大比例近乎为1:1,薄膜的维氏显微硬度HV最大值为1580kg/mm2。
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/103755]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
辛火平,陈逸清,石晓红,等. ArF准分子激光立方氮化硼薄膜的制备[J]. 中国激光,1995(08).
APA 辛火平,陈逸清,石晓红,许华平,林成鲁,&邹世昌.(1995).ArF准分子激光立方氮化硼薄膜的制备.中国激光(08).
MLA 辛火平,et al."ArF准分子激光立方氮化硼薄膜的制备".中国激光 .08(1995).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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