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AuGe和AuGeNi/n-GaAs欧姆接触的透射电镜观察

文献类型:期刊论文

作者王葛亚 ; 吴鼎芬
刊名电子显微学报
出版日期1986
期号04
ISSN号1000-6281
中文摘要用断面透射电镜技术,直接观察了实际欧姆接触工艺中AuGe/GaAs和AuGeNi/GaAs的横断面组织,并用选区电子衍射方法测定其反应产物。
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/103769]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
王葛亚,吴鼎芬. AuGe和AuGeNi/n-GaAs欧姆接触的透射电镜观察[J]. 电子显微学报,1986(04).
APA 王葛亚,&吴鼎芬.(1986).AuGe和AuGeNi/n-GaAs欧姆接触的透射电镜观察.电子显微学报(04).
MLA 王葛亚,et al."AuGe和AuGeNi/n-GaAs欧姆接触的透射电镜观察".电子显微学报 .04(1986).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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