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GaAs材料中EPR“As_(Ga)”缺陷的本性

文献类型:期刊论文

作者汪光裕 ; 冯平义 ; 邹元爔 ; 曾繁安
刊名电子学报
出版日期1989
期号01
ISSN号0372-2112
中文摘要本文根据EPR基本理论和量子化学的一些计算结果,并对照中子辐照GaAs样品中EPR“As_(Ga)”谱线形状随退火温度变化的实验结果,认为为了揭示EPR“As_(Ga)”缺陷本性必须考虑包括As_(Ga)周围多层配位原子在内的基体磁性核对于未成对电子的超精细(hf)相互作用。更进一步,本文还讨论了空位对EPR“As_(Ga)”谱线宽度和一级hf常数等影响,从而首次明确指出GaAs中EPR“As_(Ga)”可鉴别为As_(Ga)及其有关空位络合物。
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/103917]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
汪光裕,冯平义,邹元爔,等. GaAs材料中EPR“As_(Ga)”缺陷的本性[J]. 电子学报,1989(01).
APA 汪光裕,冯平义,邹元爔,&曾繁安.(1989).GaAs材料中EPR“As_(Ga)”缺陷的本性.电子学报(01).
MLA 汪光裕,et al."GaAs材料中EPR“As_(Ga)”缺陷的本性".电子学报 .01(1989).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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