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P型InP欧姆接触特性的研究

文献类型:期刊论文

作者水海龙 ; 徐少华 ; 胡道珊 ; 张挂成
刊名半导体光电
出版日期1981
期号02
ISSN号1001-5868
中文摘要<正> 一、引言随着InP光电器件的发展,尤其是长波长InGaAsP/InP异质结的光源器件和探测器的进展,对P型InP(InGaAsP)材料的欧姆接触特性的研究日益令人感到兴趣。以往的工作中广泛采用Au-Zn合金作为欧姆接触材料,该合金虽能使较低受主浓度的P-InP衬底或外延层形成欧姆接触电极,但它的缺点是与衬底的粘附性差易于剥落,而且它的接触电阻率也偏高(10~(-2)~10~(-3)Ω·cm~2)。本文目的是探索对P-InP新的欧姆接触材料,实验比较了Au-Zn、Ti-Au-Zn和
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/104213]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
水海龙,徐少华,胡道珊,等. P型InP欧姆接触特性的研究[J]. 半导体光电,1981(02).
APA 水海龙,徐少华,胡道珊,&张挂成.(1981).P型InP欧姆接触特性的研究.半导体光电(02).
MLA 水海龙,et al."P型InP欧姆接触特性的研究".半导体光电 .02(1981).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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