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RF Plasma MBE生长GaN材料及特性研究

文献类型:期刊论文

作者李伟 ; 赵智彪 ; 郑燕兰 ; 李存才 ; 杨全魁 ; 胡建 ; 齐鸣 ; 李爱珍
刊名功能材料与器件学报
出版日期1999
期号03
ISSN号1007-4252
中文摘要用RFPlasma MBE方法生长出了GaN 材料,它的X 射线衍射半峰宽为335 秒,77K 下PL发光峰半峰宽为22meV,表明了材料具有较高的晶体质量。根据X射线衍射分析,位错密度约为7 .3 ×108cm -2 。用Si 作为掺杂剂,所得载流子浓度可覆盖1017 - 1019cm -3 的范围。掺Si GaN 的PL谱表明,Si 的引入可提高材料的发光效率。
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/104219]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
李伟,赵智彪,郑燕兰,等. RF Plasma MBE生长GaN材料及特性研究[J]. 功能材料与器件学报,1999(03).
APA 李伟.,赵智彪.,郑燕兰.,李存才.,杨全魁.,...&李爱珍.(1999).RF Plasma MBE生长GaN材料及特性研究.功能材料与器件学报(03).
MLA 李伟,et al."RF Plasma MBE生长GaN材料及特性研究".功能材料与器件学报 .03(1999).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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