X射线荧光分析单标样基本参数法的应用及其探讨
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王效瑞 ; 沈礼轩 ; 汪厚基 |
| 刊名 | 分析化学
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| 出版日期 | 1983 |
| 期号 | 03 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 中文摘要 | 本文详细考察了各种基本参数(X光管的光谱强度分布除外)的不准确性对分析结果的影响程度。结果表明,单标样法对基本参数的不准确度具有明显的抵偿作用,目前的文献数据可以满足单标样法的要求。弄清了其抵偿机理,在计算程序的规格化步骤中引入系数K,改善了分析结果的准确度。分析黄铜和Fe-Cr-Ni合金中的六个成份,获得了令人满意的结果。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-29 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/104343]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王效瑞,沈礼轩,汪厚基. X射线荧光分析单标样基本参数法的应用及其探讨[J]. 分析化学,1983(03). |
| APA | 王效瑞,沈礼轩,&汪厚基.(1983).X射线荧光分析单标样基本参数法的应用及其探讨.分析化学(03). |
| MLA | 王效瑞,et al."X射线荧光分析单标样基本参数法的应用及其探讨".分析化学 .03(1983). |
入库方式： OAI收割
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