质子激发X射线荧光法测定高纯空气中痕量金属杂质Cr、Cu、Fe、Zn
文献类型：期刊论文
| 作者 | 马慈光 ; 李民 ; 赵国镇 ; 朱沛然 ; 任孟眉 |
| 刊名 | 分析测试通报
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| 出版日期 | 1992-10-27 |
| 期号 | 5页码:91-93 |
| 关键词 | 质子荧光 空气杂质 |
| 中文摘要 | 本实验用质子激发X射线荧光法(简称PIXE法)测定了高纯空气中的痕量元素。空气样品用过滤法采集,将过滤装置与空气气路联结,微粒法采集在核孔滤膜上,后端接空气流量计,控制流量在0.5 L/min,采集2～4 h。然后用PIXE测定。此法适于分析微区样品中的痕量金属杂质。Cr、Fe、Cu、Zn的检测下限小于0.1ng/cm~2,标样由美国微物质公司(Micromatter Co.U.S.A.)提供。 |
| 学科主题 | 环境化学 |
| 公开日期 | 2012-03-22 |
| 源URL | [http://159.226.240.226/handle/311016/4008]  |
| 专题 | 生态环境研究中心_大气环境科学实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 马慈光,李民,赵国镇,等. 质子激发X射线荧光法测定高纯空气中痕量金属杂质Cr、Cu、Fe、Zn[J]. 分析测试通报,1992(5):91-93. |
| APA | 马慈光,李民,赵国镇,朱沛然,&任孟眉.(1992).质子激发X射线荧光法测定高纯空气中痕量金属杂质Cr、Cu、Fe、Zn.分析测试通报(5),91-93. |
| MLA | 马慈光,et al."质子激发X射线荧光法测定高纯空气中痕量金属杂质Cr、Cu、Fe、Zn".分析测试通报 .5(1992):91-93. |
入库方式： OAI收割
来源：生态环境研究中心
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