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超导薄膜中钇钡铜原子比的快速测定

文献类型:期刊论文

作者曹如晟 ; 徐宝玲
刊名化学传感器
出版日期1990
期号03
ISSN号1008-2298
中文摘要<正> 应用反应离子束溅射镀膜技术制备的以ZrO_2为衬底的Y—Ba—Cu—O,超导薄膜,面积小,厚度薄,其总重量为数百微克。膜中Y、Ba、Cu的原子比对膜的超导性能有着极其重要的影响,因此必须测定薄膜中三元素之原子比。x—RF法对该工作已有报导,本文应用离子选择电极与分光光度法快速测定其原子比,结果与x—RF法一致.
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/104543]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
曹如晟,徐宝玲. 超导薄膜中钇钡铜原子比的快速测定[J]. 化学传感器,1990(03).
APA 曹如晟,&徐宝玲.(1990).超导薄膜中钇钡铜原子比的快速测定.化学传感器(03).
MLA 曹如晟,et al."超导薄膜中钇钡铜原子比的快速测定".化学传感器 .03(1990).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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