低温凝固高氯酸水溶液体系中固体汞电极性能和铜的氧化还原行为研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陆宗鹏 |
| 刊名 | 分析化学
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| 出版日期 | 1993-11-27 |
| 期号 | 11页码:1246-1249 |
| 关键词 | 低温电化学 凝固电解质 固体汞电极 铜的伏安法 |
| 中文摘要 | 本文介绍凝固电解质体系中固体汞电极的使用特性。在凝固的HClO_4水溶液中,固态汞电极上发生的电化学反应与液态汞和溶液体系中的非常相似。本实验测定了温度降低对Cu~(2+)的氧化还原过程的影响。最低实验温度达到-100℃。介质体系的结构变化对于Cu~(2+)的还原反应和金属互化物有重大影响。 |
| 公开日期 | 2012-03-27 |
| 源URL | [http://ir.rcees.ac.cn/handle/311016/4295]  |
| 专题 | 生态环境研究中心_水污染控制实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陆宗鹏. 低温凝固高氯酸水溶液体系中固体汞电极性能和铜的氧化还原行为研究[J]. 分析化学,1993(11):1246-1249. |
| APA | 陆宗鹏.(1993).低温凝固高氯酸水溶液体系中固体汞电极性能和铜的氧化还原行为研究.分析化学(11),1246-1249. |
| MLA | 陆宗鹏."低温凝固高氯酸水溶液体系中固体汞电极性能和铜的氧化还原行为研究".分析化学 .11(1993):1246-1249. |
入库方式： OAI收割
来源：生态环境研究中心
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