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双层金属布线硅栅CMOS门阵列电路制造工艺技术研究

文献类型:期刊论文

作者郑养鉥 ; 张敏 ; 凌栋忠 ; 吴璘 ; 顾惠芬 ; 郑庆云 ; 邱斌
刊名半导体学报
出版日期1993
期号01
ISSN号0253-4177
中文摘要采用双层金属布线可以提高集成电路的集成密度、集成度和速度。本文报道了双层金属布线工艺技术成功地应用于制造标准3μm硅栅CMOS 500门、1200门、2000门多种门阵列专用大规模集成电路。本文对双层金属布线硅栅CMOS门阵列电路制造工艺技术的几个关键技术问题进行讨论。
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/104893]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
郑养鉥,张敏,凌栋忠,等. 双层金属布线硅栅CMOS门阵列电路制造工艺技术研究[J]. 半导体学报,1993(01).
APA 郑养鉥.,张敏.,凌栋忠.,吴璘.,顾惠芬.,...&邱斌.(1993).双层金属布线硅栅CMOS门阵列电路制造工艺技术研究.半导体学报(01).
MLA 郑养鉥,et al."双层金属布线硅栅CMOS门阵列电路制造工艺技术研究".半导体学报 .01(1993).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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