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双栅GaAs MESFET的计算机辅助测试与分析

文献类型:期刊论文

作者程兆年 ; 张俊岳 ; 杨兆虎 ; 袁云芳 ; 解健芳
刊名固体电子学研究与进展
出版日期1985
期号02
ISSN号1000-3819
中文摘要研制了双栅GaAs MESFET的计算机辅助测试系统,可广泛应用于一般四端(或小于四端)器件.该系统包括硬件部分——四端器件直流特性的计算机读入设备FMR,和通用软件部分——FMR-BASIC.同时研制了工艺参数最优化分析程序——DGF TPOA,从而能够自动测报常规直流特性,并由所测结果按最优化技术(单纯形调优法)分析给出工艺参数n、a、L_1、L_2.
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/104898]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
程兆年,张俊岳,杨兆虎,等. 双栅GaAs MESFET的计算机辅助测试与分析[J]. 固体电子学研究与进展,1985(02).
APA 程兆年,张俊岳,杨兆虎,袁云芳,&解健芳.(1985).双栅GaAs MESFET的计算机辅助测试与分析.固体电子学研究与进展(02).
MLA 程兆年,et al."双栅GaAs MESFET的计算机辅助测试与分析".固体电子学研究与进展 .02(1985).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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