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退火对 a-Si∶H/a-SiN_x∶H 多层膜光致发光和红外吸收谱的影响

文献类型:期刊论文

作者王树林 ; 程如光 ; 祁明维 ; 沈学础 ; 唐文国
刊名无机材料学报
出版日期1991
期号04
关键词K1 多层膜 氢化非晶硅 光致发光 红外吸收谱 界面氢 热稳定性
ISSN号1000-324X
其他题名T1 退火对 a-Si∶H/a-SiN_x∶H 多层膜光致发光和红外吸收谱的影响
中文摘要本文报道了经300℃到800℃退火后的氢化非晶硅(a-Si∶H)/氢化非晶氮化硅(a-SiN_x∶H)多层膜77K 的光致发光性能。77K 的光致发光峰值能量随 T_a 增加而减少,其减少速度对几种样品是不同的,由厚度为20(?)的 a-Si∶H 子层组成的多层膜(d_(?)=20(?))要来得慢。当退火温度达到800℃时,d_(?)=20(?)的多层膜仍保留有光致发光特性,而对于 d_(?)=300(?)多层膜和单层 a-Si∶H 膜,当退火到600℃后光致发光特性已消失。文中提出了不同 a-Si∶H
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/104985]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
王树林,程如光,祁明维,等. 退火对 a-Si∶H/a-SiN_x∶H 多层膜光致发光和红外吸收谱的影响[J]. 无机材料学报,1991(04).
APA 王树林,程如光,祁明维,沈学础,&唐文国.(1991).退火对 a-Si∶H/a-SiN_x∶H 多层膜光致发光和红外吸收谱的影响.无机材料学报(04).
MLA 王树林,et al."退火对 a-Si∶H/a-SiN_x∶H 多层膜光致发光和红外吸收谱的影响".无机材料学报 .04(1991).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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