微机化X射线双晶衍射仪
文献类型：期刊论文
| 作者 | 唐千里 ; 朱南昌 ; 李润身 |
| 刊名 | 分析仪器
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| 出版日期 | 1990 |
| 期号 | 01 |
| ISSN号 | 1001-232X |
| 中文摘要 | 本文介绍一种微机化的X射线双晶衍射仪,不但可用于近完整晶体中微小畸变,点阵错配及晶片弯曲等的测量,而且可以作定点定时的强度记录和扫描,以提高信噪比,并使曲线数据化。经微机化后的X射线双晶衍射仪可以对超晶格材料以及离子注入材料作细致的分析。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-29 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105022]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 唐千里,朱南昌,李润身. 微机化X射线双晶衍射仪[J]. 分析仪器,1990(01). |
| APA | 唐千里,朱南昌,&李润身.(1990).微机化X射线双晶衍射仪.分析仪器(01). |
| MLA | 唐千里,et al."微机化X射线双晶衍射仪".分析仪器 .01(1990). |
入库方式： OAI收割
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