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赝形In_xGa_(1-x)As/In_(0.52)Al_(0.48)As异质结构中二维电子气的回旋共振光谱研究

文献类型:期刊论文

作者陈张海 ; 胡灿明 ; 陈建新 ; 史国良 ; 刘普霖 ; 沈学础 ; 李爱珍
刊名物理学报
出版日期1998
期号06
ISSN号1000-3290
中文摘要采用回旋共振光谱方法,同时获得了具有较高电子气浓度的赝形In080Ga020As/In053Ga047As/In052Al048AsHEMT结构中最低两个子能带的费密面附近电子有效质量、散射时间和迁移率.观察到该系统中能带非抛物性和波函数穿透所导致的电子回旋有效质量的显著增大效应,以及合金无序势和电离杂质散射所引起的电子散射时间和迁移率明显的子带依赖性
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105168]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
陈张海,胡灿明,陈建新,等. 赝形In_xGa_(1-x)As/In_(0.52)Al_(0.48)As异质结构中二维电子气的回旋共振光谱研究[J]. 物理学报,1998(06).
APA 陈张海.,胡灿明.,陈建新.,史国良.,刘普霖.,...&李爱珍.(1998).赝形In_xGa_(1-x)As/In_(0.52)Al_(0.48)As异质结构中二维电子气的回旋共振光谱研究.物理学报(06).
MLA 陈张海,et al."赝形In_xGa_(1-x)As/In_(0.52)Al_(0.48)As异质结构中二维电子气的回旋共振光谱研究".物理学报 .06(1998).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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