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赝形InGaAs/InAlAs渐变异质结中的零磁场自旋分裂

文献类型:期刊论文

作者桂永胜 ; 郑国珍 ; 郭少令 ; 褚君浩 ; 汤定元 ; 陈建新 ; 李爱珍
刊名物理学报
出版日期1999
期号01
ISSN号1000-3290
中文摘要在赝形渐变InGaAs/In0.52Al0.48As异质结的二维电子气中,发现了自旋方向向上的电子和自旋向下的电子在零磁场下存在着自旋分裂.利用ShubnikovdeHaas振荡研究了异质结中的自旋分裂行为,通过振荡中的拍频现象,发现了零磁场下的自旋分裂量为876meV.
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105169]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
桂永胜,郑国珍,郭少令,等. 赝形InGaAs/InAlAs渐变异质结中的零磁场自旋分裂[J]. 物理学报,1999(01).
APA 桂永胜.,郑国珍.,郭少令.,褚君浩.,汤定元.,...&李爱珍.(1999).赝形InGaAs/InAlAs渐变异质结中的零磁场自旋分裂.物理学报(01).
MLA 桂永胜,et al."赝形InGaAs/InAlAs渐变异质结中的零磁场自旋分裂".物理学报 .01(1999).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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