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银基Bi系2223相带材临界电流比对循环测试(RRT)的实验结果和分析

文献类型:期刊论文

作者华崇远 ; 肖玲 ; 周其 ; 段镇中 ; 郭树权 ; 曹烈兆 ; 汪成友 ; 丁世英 ; 孙越 ; 杨乾声
刊名低温物理学报
出版日期1997
期号06
ISSN号1000-3258
中文摘要在国家超导中心主持下,国内六个实验室成功的开展了银基Bi系2223相带材临界电流循环比对测试(RRT)实验.有24个样品在各实验室间进行了并联循环测试,4个样品进行了串联循环测试.在零磁场、液氮温度和1μV/cm判据下,样品临界电流Ic测量的最大变化系数(COV)小于2.5%.液氮温度是影响Ic测量值的一个重要因素.在Ic测量时,液氮温度的测量精度应优于±0.1K,并应对测量的临界电流值作相应的温度修正.比对实验说明1μV/cm判据是一个相对合理,更能反映出样品本征Ic特征的判据.
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105284]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
华崇远,肖玲,周其,等. 银基Bi系2223相带材临界电流比对循环测试(RRT)的实验结果和分析[J]. 低温物理学报,1997(06).
APA 华崇远.,肖玲.,周其.,段镇中.,郭树权.,...&杨乾声.(1997).银基Bi系2223相带材临界电流比对循环测试(RRT)的实验结果和分析.低温物理学报(06).
MLA 华崇远,et al."银基Bi系2223相带材临界电流比对循环测试(RRT)的实验结果和分析".低温物理学报 .06(1997).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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