由过量Pb引起的PLT铁电薄膜钉扎现象
文献类型：期刊论文
| 作者 | 宋志棠 ; 任巍 ; 张良莹 ; 姚熹 |
| 刊名 | 材料研究学报
 |
| 出版日期 | 1998 |
| 期号 | 06 |
| 关键词 | K1 铁电薄膜 钉扎现象 电滞回线 C－V曲线 |
| ISSN号 | 1005-3093 |
| 其他题名 | T1 由过量Pb引起的PLT铁电薄膜钉扎现象 |
| 中文摘要 | 采用金属有机热分解法制备了Pb过量的PLT铁电薄膜电子探针和Auger电子能谱分析证实了在薄膜中及薄膜与底电极界面上存在过量Pb引起成份偏析，导致缺陷能级上的陷阱电荷。在退极化场的作用下，陷阱电荷可聚集在畴壁钉扎电畴，造成电滞回线和C—V曲线异常 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-29 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105443]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 宋志棠,任巍,张良莹,等. 由过量Pb引起的PLT铁电薄膜钉扎现象[J]. 材料研究学报,1998(06). |
| APA | 宋志棠,任巍,张良莹,&姚熹.(1998).由过量Pb引起的PLT铁电薄膜钉扎现象.材料研究学报(06). |
| MLA | 宋志棠,et al."由过量Pb引起的PLT铁电薄膜钉扎现象".材料研究学报 .06(1998). |
入库方式： OAI收割
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