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在Si(111)上脉冲ArF准分子激光淀积晶态定向α-SiC薄膜

文献类型:期刊论文

作者王玉霞 ; 温军 ; 郭震 ; 汤洪高 ; 黄继颇 ; 王连卫 ; 林成鲁
刊名半导体学报
出版日期2000
期号06
ISSN号0253-4177
中文摘要报道用脉冲 Ar F激光烧蚀 Si C陶瓷靶 ,在 80 0℃ Si( 1 1 1 )衬底上淀积 Si C薄膜 ,再经92 0℃真空 ( 1 0 - 3Pa)退火处理 ,制备出晶态α- Si C薄膜 .用 FTIR、XPS、SEM、XRD、TEM、PL谱等分析方法 ,研究了薄膜的表面形态、晶体结构、微结构、组成、化学态和光致发光等 .结果表明 ,在 92 0℃较低温度下 ,Si C薄膜经非晶核化 -长大过程 ,生成了晶态α- Si C( 0 0 0 1 )∥ Si( 1 1 1 )高度定向外延膜 ,薄膜内
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105483]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
王玉霞,温军,郭震,等. 在Si(111)上脉冲ArF准分子激光淀积晶态定向α-SiC薄膜[J]. 半导体学报,2000(06).
APA 王玉霞.,温军.,郭震.,汤洪高.,黄继颇.,...&林成鲁.(2000).在Si(111)上脉冲ArF准分子激光淀积晶态定向α-SiC薄膜.半导体学报(06).
MLA 王玉霞,et al."在Si(111)上脉冲ArF准分子激光淀积晶态定向α-SiC薄膜".半导体学报 .06(2000).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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