磁光薄膜材料的微量化学分析法——(Pb Bi Pr Yb Gd)_3(Fe Al)_5O_(12)、(Pb Bi Tm Fe Ga)_8O_(12)原子比值
文献类型：期刊论文
| 作者 | 胡承苓 ; 盛娟娟 ; 汪咪珍 |
| 刊名 | 分析化学
 |
| 出版日期 | 1986 |
| 期号 | 04 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 中文摘要 | <正> 掺铋石榴石单晶薄膜是一种性能良好的磁光材料。薄膜组成影响材料的性能。国外用放射性示踪等方法测定其组成。本文解决了取样问题,应用层析分离与分光光度法测定铁、铝、铋、镓、镨、钇、镱与铥含量;并确定了薄膜组份的原子比值。 1.酸腐蚀法取样:本文在工作的基础上,样品用浓HNO_3和24NH_2SO_4混合酸(1:3)加热溶解约需数分钟。 2.铝-铬天青S-溴化十六烷基吡啶分光光度法:本文采用醋酸丁酯在7NHCI中萃取 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-29 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105589]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡承苓,盛娟娟,汪咪珍. 磁光薄膜材料的微量化学分析法——(Pb Bi Pr Yb Gd)_3(Fe Al)_5O_(12)、(Pb Bi Tm Fe Ga)_8O_(12)原子比值[J]. 分析化学,1986(04). |
| APA | 胡承苓,盛娟娟,&汪咪珍.(1986).磁光薄膜材料的微量化学分析法——(Pb Bi Pr Yb Gd)_3(Fe Al)_5O_(12)、(Pb Bi Tm Fe Ga)_8O_(12)原子比值.分析化学(04). |
| MLA | 胡承苓,et al."磁光薄膜材料的微量化学分析法——(Pb Bi Pr Yb Gd)_3(Fe Al)_5O_(12)、(Pb Bi Tm Fe Ga)_8O_(12)原子比值".分析化学 .04(1986). |
入库方式： OAI收割
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。