碲化物薄膜的附着牢固度与其显微结构的关系
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张素英 ; 范滨 ; 程实平 ; 凌洁华 ; 周诗瑶 ; 王葛亚 ; 施天生 |
| 刊名 | 红外与毫米波学报
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| 出版日期 | 1999 |
| 期号 | 04 |
| ISSN号 | 1001-9014 |
| 中文摘要 | 用Ｘ射线衍射（ＸＲＤ）和透射电镜术（ＴＥＭ）观察Ｓｉ和Ｇｅ基板上ＰｂＴｅ、ＣｄＴｅ及ＰｂＧｅＴｅ单层薄膜及其与ＺｎＳ组合的多层薄膜的显微结构，给出了薄膜附着牢固度与薄膜显微结构的关系 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-29 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105707]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张素英,范滨,程实平,等. 碲化物薄膜的附着牢固度与其显微结构的关系[J]. 红外与毫米波学报,1999(04). |
| APA | 张素英.,范滨.,程实平.,凌洁华.,周诗瑶.,...&施天生.(1999).碲化物薄膜的附着牢固度与其显微结构的关系.红外与毫米波学报(04). |
| MLA | 张素英,et al."碲化物薄膜的附着牢固度与其显微结构的关系".红外与毫米波学报 .04(1999). |
入库方式： OAI收割
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