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电解液-Si_3N_4绝缘体界面表面基/复合中心模型的研究

文献类型:期刊论文

作者牛蒙年 ; 丁辛芳 ; 童勤义
刊名电子学报
出版日期1996
期号11
关键词K1 表面基模型 Si_3N_4材料 复合中心理论 硅醇基/胺基比率 pH- 关系
ISSN号0372-2112
其他题名T1 电解液-Si_3N_4绝缘体界面表面基/复合中心模型的研究
中文摘要本文在表面基模型基础上,借用半导体物理中复合/产生概念,提出表面基/复合中心模型,并研究了含两种类型表面基的Si3N4绝缘体及其两种表面基(硅醇基和胺基)的比率对Si3N4栅pH-ISFET敏感性能和稳定性的影响,其结果与实验结果相符。对改善pH-ISFET传感器的敏感特性具有实际指导意义。
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105725]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
牛蒙年,丁辛芳,童勤义. 电解液-Si_3N_4绝缘体界面表面基/复合中心模型的研究[J]. 电子学报,1996(11).
APA 牛蒙年,丁辛芳,&童勤义.(1996).电解液-Si_3N_4绝缘体界面表面基/复合中心模型的研究.电子学报(11).
MLA 牛蒙年,et al."电解液-Si_3N_4绝缘体界面表面基/复合中心模型的研究".电子学报 .11(1996).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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