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非掺杂气相外延GaAs层中空间电荷散射中心的研究

文献类型:期刊论文

作者邵久安 ; 邹元燨 ; 彭瑞伍
刊名应用科学学报
出版日期1986
期号01
ISSN号0255-8297
中文摘要根据室温和77K下电学性质测试数据,计算了非掺杂VPEGaAs材料中空间电荷中心密度与散射截面积的乘积N_(SO)A,然后从N_(SO)A分别与N_D及μ_(300K)间的关系,推测空间电荷散射中心是某种Si_G_S-(O_1,V_1)型的络合物.结合本工作,为了在AsCl_3欠纯的情况下获得适当纯度的外延层,在气相外延系统中装入去硫装置,有效地抑制了硫、硒等杂质,附带发现该装置对碳的去除也有一定效果.
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105825]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
邵久安,邹元燨,彭瑞伍. 非掺杂气相外延GaAs层中空间电荷散射中心的研究[J]. 应用科学学报,1986(01).
APA 邵久安,邹元燨,&彭瑞伍.(1986).非掺杂气相外延GaAs层中空间电荷散射中心的研究.应用科学学报(01).
MLA 邵久安,et al."非掺杂气相外延GaAs层中空间电荷散射中心的研究".应用科学学报 .01(1986).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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