感应耦合高频等离子体发射光谱法测定氧化镧中非稀土杂质
文献类型：期刊论文
| 作者 | 朱锦方 ; 罗培卿 |
| 刊名 | 上海有色金属
 |
| 出版日期 | 1980 |
| 期号 | S1 |
| ISSN号 | 1005-2046 |
| 中文摘要 | <正> 感应耦合高频等离子体发射光谱法(ICP—AES)是一种多元素同时分析技术。以前,作者及其同事采用去溶装置曾得到较高的检出限。然而,当有大量基体元素共存时,一般都使用不去溶的气动雾化装置,这种装置不仅仍然具有较好的检出限,而且大大降低了第三元素和酸度的影 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-29 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105912]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 朱锦方,罗培卿. 感应耦合高频等离子体发射光谱法测定氧化镧中非稀土杂质[J]. 上海有色金属,1980(S1). |
| APA | 朱锦方,&罗培卿.(1980).感应耦合高频等离子体发射光谱法测定氧化镧中非稀土杂质.上海有色金属(S1). |
| MLA | 朱锦方,et al."感应耦合高频等离子体发射光谱法测定氧化镧中非稀土杂质".上海有色金属 .S1(1980). |
入库方式： OAI收割
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。