高阻材料霍尔效应测试法探讨
文献类型：期刊论文
| 作者 | 苏千武 ; 蔡希介 ; 苏祖兴 ; 宋志庆 |
| 刊名 | 仪器制造
 |
| 出版日期 | 1985 |
| 期号 | 01 |
| ISSN号 | 1002-1841 |
| 中文摘要 | 高阻半导体材料的霍尔测试,不论是测试技术,还是数据分析处理都比低、中阻材料困难得多。对此,本文介绍和讨论了有关实现高阻半导体材料常规霍尔元件的具体方法。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-29 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105988]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 苏千武,蔡希介,苏祖兴,等. 高阻材料霍尔效应测试法探讨[J]. 仪器制造,1985(01). |
| APA | 苏千武,蔡希介,苏祖兴,&宋志庆.(1985).高阻材料霍尔效应测试法探讨.仪器制造(01). |
| MLA | 苏千武,et al."高阻材料霍尔效应测试法探讨".仪器制造 .01(1985). |
入库方式： OAI收割
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