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硅全离子注入的GaAs双栅MESFET

文献类型:期刊论文

作者王渭源 ; 卢建国 ; 乔墉 ; 周永泉 ; 夏冠群 ; 邵永富 ; 杨新民 ; 陈自姚 ; 罗潮渭 ; 詹千宝 ; 王文骐
刊名应用科学学报
出版日期1983
期号04
ISSN号0255-8297
中文摘要本文研究了硅全离子注入的平面型GaAs双栅MESFET.有源层注入条件为110ke V、3.5×10~(12)cm~(-2),接触层注入条件为50keV、8×10~(12)cm~(-2),退火条件为800℃30分钟.FET的铝栅1.5×300μm,Au-Ge-Ni为欧姆接触.器件用简化的陶瓷管壳或塑料封装.器件工作参数V_(DS)4V,V_(Q_1S)~-2V,V_(Q_2S)~0,实测1GH_2下最佳NF_(min)0.8db,Ga11.5db,与优质VPE材料制管有相同的结果.讨论了全离子注入的优越性
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/106069]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
王渭源,卢建国,乔墉,等. 硅全离子注入的GaAs双栅MESFET[J]. 应用科学学报,1983(04).
APA 王渭源.,卢建国.,乔墉.,周永泉.,夏冠群.,...&王文骐.(1983).硅全离子注入的GaAs双栅MESFET.应用科学学报(04).
MLA 王渭源,et al."硅全离子注入的GaAs双栅MESFET".应用科学学报 .04(1983).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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