硅雪崩光电二极管的计算机自动测试
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈启玙 ; 陈瑞璋 ; 陈莲勇 ; 王德宁 ; 何梁昌 |
| 刊名 | 自动化学报
 |
| 出版日期 | 1983 |
| 期号 | 02 |
| ISSN号 | 0254-4156 |
| 中文摘要 | 本文根据硅雪崩光电二极管(Si-APD)的测试原理,设计了一套计算机测试系统,包括光源部分、直流偏置扫描电源、二进制权电阻器、XF-01选频放大器、A/D,D/A接口转换器和JS-10小型计算机。文中对设计的合理性、使用的可靠性及测试误差进行了分析和讨论。实践证明,该测试系统能满足计算机自动测试Si-APD直流或低频参数的要求。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-03-29 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/106077]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈启玙,陈瑞璋,陈莲勇,等. 硅雪崩光电二极管的计算机自动测试[J]. 自动化学报,1983(02). |
| APA | 陈启玙,陈瑞璋,陈莲勇,王德宁,&何梁昌.(1983).硅雪崩光电二极管的计算机自动测试.自动化学报(02). |
| MLA | 陈启玙,et al."硅雪崩光电二极管的计算机自动测试".自动化学报 .02(1983). |
入库方式： OAI收割
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