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硅中氦氧共注入纳米孔氧化埋层的研究

文献类型:期刊论文

作者张苗 ; 多新中 ; 林梓鑫 ; 周祖尧 ; 林成鲁
刊名功能材料与器件学报
出版日期1998
期号01
ISSN号1007-4252
中文摘要将1×1017/cm2的氦离子以35keV的能量注入到单晶硅中,在硅表层下面形成纳米空腔。将1×1017/cm2的氧离子注入到空腔层的下方。用RBS/C、SRP及XTEM等测试手段对样品进行研究。结果表明,纳米空腔对氧有强烈的吸附作用,10000C退火后氧从原注入位置释放,并被空腔俘获,形成含纳米孔的氧化埋层。氧与空腔的互作用抑制了纳米空腔的迁移、聚合。利用这一现象有望制备出纳米氧化埋层SIMOX材料。
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/106082]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
张苗,多新中,林梓鑫,等. 硅中氦氧共注入纳米孔氧化埋层的研究[J]. 功能材料与器件学报,1998(01).
APA 张苗,多新中,林梓鑫,周祖尧,&林成鲁.(1998).硅中氦氧共注入纳米孔氧化埋层的研究.功能材料与器件学报(01).
MLA 张苗,et al."硅中氦氧共注入纳米孔氧化埋层的研究".功能材料与器件学报 .01(1998).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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