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金属-半导体欧姆接触比接触电阻值的微机自动测定

文献类型:期刊论文

作者朱德光 ; 吴鼎芬 ; 王德宁 ; 吴国炎 ; 金云龙
刊名半导体技术
出版日期1987
期号06
ISSN号1003-353X
中文摘要本文描述了欧姆接触的测试原理和测定欧姆接触比接触电阻的微机自动测试系统,并用该系统对制备的欧姆接触进行了测量,其测量精度优1%,测试系统使用方便,操作简单,获得结果迅速、可靠,适合于半导体器件的欧姆接触工艺研究与监控中比接触电阻的测定.
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/106292]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
朱德光,吴鼎芬,王德宁,等. 金属-半导体欧姆接触比接触电阻值的微机自动测定[J]. 半导体技术,1987(06).
APA 朱德光,吴鼎芬,王德宁,吴国炎,&金云龙.(1987).金属-半导体欧姆接触比接触电阻值的微机自动测定.半导体技术(06).
MLA 朱德光,et al."金属-半导体欧姆接触比接触电阻值的微机自动测定".半导体技术 .06(1987).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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