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离子束合成SIMOX技术的进展

文献类型:期刊论文

作者林成鲁 ; 周祖尧 ; 竺士炀 ; 林梓鑫 ; 倪如山
刊名微电子学
出版日期1996
期号03
ISSN号10043365
中文摘要综述了离子束科学技术领域新的重要进展──从作为半导体掺杂手段的低剂量(1011~1016/cm2)离子注入到高剂量(1017~1018/cm2)离子注入合成新材料的离子束合成技术。讨论了高剂量注入的物理效应,介绍了利用高剂量氧注入硅合成SIMOX材料的物理过程以及SIMOX技术的多种应用。提出了提高SIMOX材料性能的各种途径。
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/106401]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
林成鲁,周祖尧,竺士炀,等. 离子束合成SIMOX技术的进展[J]. 微电子学,1996(03).
APA 林成鲁,周祖尧,竺士炀,林梓鑫,&倪如山.(1996).离子束合成SIMOX技术的进展.微电子学(03).
MLA 林成鲁,et al."离子束合成SIMOX技术的进展".微电子学 .03(1996).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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