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离子注入形成AIN埋层的分析与计算机模拟

文献类型:期刊论文

作者施左宇 ; 林成鲁 ; 朱文化 ; U.Bussmann ; P.L.F.Hemment ; 邹世昌
刊名功能材料
出版日期1993
期号03
ISSN号1001-9731
中文摘要以离子背散射和二次离子质谱分析了大剂量N~+离子注入A1形成的A1/A1N/A1多层结构。基于离子注入形成A1N埋层的机理,利用计算机程序动态模拟A1N层的形成过程及终态结构。研究发现,N/A1原子比饱和于A1N化学组分比,模拟与实验结果符合得很好;低能注入能降低形成A1N层的临界剂量,且A1/A1N界面更陡。
语种中文
公开日期2012-03-29
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/106450]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
施左宇,林成鲁,朱文化,等. 离子注入形成AIN埋层的分析与计算机模拟[J]. 功能材料,1993(03).
APA 施左宇,林成鲁,朱文化,U.Bussmann,P.L.F.Hemment,&邹世昌.(1993).离子注入形成AIN埋层的分析与计算机模拟.功能材料(03).
MLA 施左宇,et al."离子注入形成AIN埋层的分析与计算机模拟".功能材料 .03(1993).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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