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Investigation of silicon on insulator fabricated by two-step O+ implantation

文献类型:期刊论文

作者Wei,X ; Xue,ZY ; Wu,AM ; Wang,X ; Li,XY ; Ye,F ; Chen,J ; Chen,M ; Zhang,B ; Lin,CL ; Zhang,MA ; Wang,X
刊名CHINESE SCIENCE BULLETIN
出版日期2011
卷号56期号:4-5页码:444-448
ISSN号1001-6538
关键词SCIENCE CHINA PRESS
学科主题Multidisciplinary Sciences
公开日期2012-04-10
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/106766]  
专题上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
Wei,X,Xue,ZY,Wu,AM,et al. Investigation of silicon on insulator fabricated by two-step O+ implantation[J]. CHINESE SCIENCE BULLETIN,2011,56(4-5):444-448.
APA Wei,X.,Xue,ZY.,Wu,AM.,Wang,X.,Li,XY.,...&Wang,X.(2011).Investigation of silicon on insulator fabricated by two-step O+ implantation.CHINESE SCIENCE BULLETIN,56(4-5),444-448.
MLA Wei,X,et al."Investigation of silicon on insulator fabricated by two-step O+ implantation".CHINESE SCIENCE BULLETIN 56.4-5(2011):444-448.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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