The impact of total ionizing radiation on body effect
文献类型：期刊论文
| 作者 | Ning,BX ; Hu,ZY ; Zhang,ZX ; Liu,ZL ; Chen,M ; Bi,DW ; Zou,SC |
| 刊名 | MICROELECTRONICS JOURNAL
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| 出版日期 | 2011 |
| 卷号 | 42期号:12页码:1396-1399 |
| 关键词 | ELSEVIER SCI LTD |
| ISSN号 | 0026-2692 |
| 学科主题 | Engineering ; Electrical & Electronic; Nanoscience & Nanotechnology |
| 公开日期 | 2012-04-10 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/106807]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Ning,BX,Hu,ZY,Zhang,ZX,et al. The impact of total ionizing radiation on body effect[J]. MICROELECTRONICS JOURNAL,2011,42(12):1396-1399. |
| APA | Ning,BX.,Hu,ZY.,Zhang,ZX.,Liu,ZL.,Chen,M.,...&Zou,SC.(2011).The impact of total ionizing radiation on body effect.MICROELECTRONICS JOURNAL,42(12),1396-1399. |
| MLA | Ning,BX,et al."The impact of total ionizing radiation on body effect".MICROELECTRONICS JOURNAL 42.12(2011):1396-1399. |
入库方式： OAI收割
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