Analysis and evaluation of uniformity of SWIR InGaAs FPA-Part I: Material issues
文献类型：期刊论文
| 作者 | Gu, Y ; Zhang, YG ; Li, C ; Wang, K ; Li, HSBY ; Li, X ; Fang, X |
| 刊名 | INFRARED PHYSICS & TECHNOLOGY
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| 出版日期 | 2011 |
| 卷号 | 54期号:6页码:497-502 |
| 关键词 | ELSEVIER SCIENCE BV |
| ISSN号 | 1350-4495 |
| 学科主题 | Instruments & Instrumentation; Optics; Physics, Applied |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2012-04-10 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/106816]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Gu, Y,Zhang, YG,Li, C,et al. Analysis and evaluation of uniformity of SWIR InGaAs FPA-Part I: Material issues[J]. INFRARED PHYSICS & TECHNOLOGY,2011,54(6):497-502. |
| APA | Gu, Y.,Zhang, YG.,Li, C.,Wang, K.,Li, HSBY.,...&Fang, X.(2011).Analysis and evaluation of uniformity of SWIR InGaAs FPA-Part I: Material issues.INFRARED PHYSICS & TECHNOLOGY,54(6),497-502. |
| MLA | Gu, Y,et al."Analysis and evaluation of uniformity of SWIR InGaAs FPA-Part I: Material issues".INFRARED PHYSICS & TECHNOLOGY 54.6(2011):497-502. |
入库方式： OAI收割
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