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新型MEMS质量传感器的研究

文献类型:期刊论文

作者熊磊 ; 焦继伟 ; 葛道晗 ; 宓斌伟 ; 张轩雄
刊名仪表技术与传感器
出版日期2011
期号08
关键词MEMS 谐振器 质量传感器 自补偿
ISSN号1002-1841
中文摘要研究了一种新型MEMS质量传感器的设计、仿真与制造。这种用于流体中微小分子质量检测的MEMS器件,具有高度对称的中空圆盘结构,以谐振的方式工作于简并/解并模态,能在测量时实现对环境波动的自我补偿。器件的中空腔内可以流过被测流体,腔外的真空环境使得圆盘谐振器受到更小的阻尼。利用ANSYS对圆盘在质量吸附前后的模态及频率分裂进行仿真,计算结果显示对质量的测量灵敏度达pg量级。采用MEMS双牺牲层工艺方法成功制作出具有双层结构的空心圆盘谐振器。
语种中文
公开日期2012-04-13
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/107055]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
熊磊,焦继伟,葛道晗,等. 新型MEMS质量传感器的研究[J]. 仪表技术与传感器,2011(08).
APA 熊磊,焦继伟,葛道晗,宓斌伟,&张轩雄.(2011).新型MEMS质量传感器的研究.仪表技术与传感器(08).
MLA 熊磊,et al."新型MEMS质量传感器的研究".仪表技术与传感器 .08(2011).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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