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某些Ⅲ,Ⅴ族元素在锗、硅中的相互作用

文献类型:期刊论文

作者刘振元
刊名金属学报
出版日期1965
期号02
关键词相互作用:6511 电阻率:4601 温差电动势:4124 最大值:2722 等温曲线:1768 改变符号:1576 杂质:1416 原子:1339 溶解度:1154 半导体:1121
ISSN号0412-1961
中文摘要研究了以锗、硅为基的固溶体中,铝、锑、磷的行为。在分析Ce-Al-Sb,Ge-Al-P,Si-Al-P系统时,发现在假二元Ge-AlSb,Ge-AlP,Si-AlP截面上,上述元素有最大的共同溶解度。在研究锗、硅固溶体中,掺杂元素组分与微硬度、电阻率的关系时,获得的结果是在相应上述假二元截面上,出现最小值和最大值。而温差电动势则在该截面改变符号。在Si-Al-Sb系中,微硬度的最小值,电阻率的最大值都不很明显。从试验结果,可以认为Ge-Al-Sb,Ge-Al-P,Si-Al-P系,铝、锑和铝、磷在锗、硅固
语种中文
公开日期2012-04-19
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/107508]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
推荐引用方式
GB/T 7714
刘振元. 某些Ⅲ,Ⅴ族元素在锗、硅中的相互作用[J]. 金属学报,1965(02).
APA 刘振元.(1965).某些Ⅲ,Ⅴ族元素在锗、硅中的相互作用.金属学报(02).
MLA 刘振元."某些Ⅲ,Ⅴ族元素在锗、硅中的相互作用".金属学报 .02(1965).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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