微机辅助测试中的微处理机模型和方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李国机 |
| 刊名 | 微处理机
 |
| 出版日期 | 1986 |
| 期号 | 01 |
| 关键词 | 单片微处理机:6705 逻辑部分:3983 微机辅助测试:3024 测试方法:2613 微处理机指令系统:2442 普遍模型:2139 状态转换图:2004 发展需要:1859 流向图:1618 存贮器:1598 |
| ISSN号 | 1002-2279 |
| 中文摘要 | <正> 微处理机的迅速发展需要有效的测试方法以及性能价格比高的测试设备。本文基于对微处理机体系结构设计的分析,建立一个普遍模型和信息流向图及信息表达式。进而从微处理机指令系统和状态转换图,提出一种面向微处理机制造单位的有效测试方法。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-04-19 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/107550]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李国机. 微机辅助测试中的微处理机模型和方法[J]. 微处理机,1986(01). |
| APA | 李国机.(1986).微机辅助测试中的微处理机模型和方法.微处理机(01). |
| MLA | 李国机."微机辅助测试中的微处理机模型和方法".微处理机 .01(1986). |
入库方式： OAI收割
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