同步光数据采集及处理
文献类型：学位论文
| 作者 | 戴兴 |
| 学位类别 | 硕士 |
| 答辩日期 | 2008-05-29 |
| 授予单位 | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 授予地点 | 上海应用物理研究所 |
| 导师 | 叶恺容 |
| 关键词 | 上海光源 同步光系统 干涉法 束流截面尺寸测量 |
| 其他题名 | Data acquisition & process of synchrotron radiation light |
| 中文摘要 | 束流测量系统是国家重大科研工程上海光源众多组成系统中的一个重要的子系统，它为光源的调试和运行提供了重要的诊断手段。上海光源工程采用同步光来测量束流的截面尺寸，具有无阻拦，实时等优点。本文在上海光源已经成功出光，尚处于调试阶段的背景下，详细介绍了采用了干涉法测量的同步光测量系统，并测试了上海光源调试阶段的束流截面尺寸，主要分为以下几个部分： 第一部分，介绍同步光测量系统的整体架构，及光学平台的具体规划，使得光学平台上各模块合理地分配使用萃取出的可见光束。 第二部分，介绍了干涉法测量束流截面尺寸的原理及测量系统的光路设计。 第三部分，同步光采集系统的硬件控制，介绍了虚拟仪器在运动控制系统中的应用。各类步进电机的比较与选择，以及运动控制系统的各硬件连接与接口说明，并用Labview 软件编程实现了对系统光路中的硬件控制。 第四部分，同步光采集系统的软件设计部分，也是本文的核心部分，主要涉及了干涉法测量系统的图像的采集，处理，其中包括图像数据的平滑及本地噪声的去除，干涉条纹强度曲线的拟合，截面尺寸的计算。同时还分析计算了截面尺寸的误差，并给出了理论的最佳双缝间距设计方案。 第五部分，介绍了波前形变的产生原因，对比并选择了适合上海光源同步光测试系统的波前形变的测试方法，分析了束流流强对萃取镜热形变的影响，并通过测试计算出了适合上海光源同步光测试系统的误差标定系数。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-04-11 |
| 页码 | 67 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/7306]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 戴兴. 同步光数据采集及处理[D]. 上海应用物理研究所. 中国科学院上海应用物理研究所. 2008. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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