上海光源光束线位置测量系统的控制和数据获取
文献类型：学位论文
| 作者 | 秦香云 |
| 学位类别 | 硕士 |
| 答辩日期 | 2009-05-26 |
| 授予单位 | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 授予地点 | 上海应用物理研究所 |
| 导师 | 黎忠 |
| 关键词 | EPICS X射线位置测量系统 X射线位置探测器 数据采集 |
| 其他题名 | The control and data acquisition of SSRF Position Measurement System |
| 中文摘要 | 在同步辐射光源中，X光束的位置对提高X光束的稳定性以及进行光束线的调试都是个非常重要的参数。对于第三代同步辐射光源，X光束功率密度高、总功率大，X射线位置测量系统中的位置探测器(X-ray Beam Position Monitor, XBPM)就不仅要考虑测量的灵敏、效率等问题，还需要考虑探测装置的耐辐射、耐高温、散热等问题。基于以上这些问题，在上海光源中，X射线位置测量系统就不能用普通的位置测量系统，而对该系统的控制和数据获取也有更高的要求。 EPICS(Experimental Physics and IndustrialControl System)是由美国Argonne和Los Alamos等实验室联合开发的软件工具集，在加速器控制界得到广泛地应用。本文所介绍的X射线位置测量系统的控制和数据获取是在EPICS框架下由底层硬件、软IOC和上层OPI组成，它的主要任务是在线的获取数据、处理数据、实时的显示X光束的位置曲线，并且可以把X光束的位置反馈给加速器、光束线站。 根据上海光源的特点，该位置测量系统的控制和数据获取主要是由位置探测器、I/V电流放大器、数据采集模块、软IOC以及上层OPI组成。软件部分主要是编写数据库记录，获取实时的束流信号，以及开发GUI界面图；硬件部分主要是配置数据采集模块，调试数据采集模块和I/V电流放大器的连接电路。该位置测量系统的控制和数据获取可以实现实时的数据采集、数据分析、处理、存储，并且可以通过GUI界面图观察X光束的相对位置。 现在X射线位置测量系统的控制和数据获取已经在上海光源的首批七条光束线站上稳定的运行了。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-04-11 |
| 页码 | 73 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/7370]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 秦香云. 上海光源光束线位置测量系统的控制和数据获取[D]. 上海应用物理研究所. 中国科学院上海应用物理研究所. 2009. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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