Investigation on reflection tomography imaging with terahertz wave of nonparallel interfaces inside the sample
文献类型:期刊论文
作者 | Xi, ZJ(席再军) ; Xiao, TQ(肖体乔) ; Zhang, ZY(张增艳) ; Chen, M(陈敏) ; Yu, XH ; Xu(余笑寒), HJ(胡钧) |
刊名 | ACTA PHYSICA SINICA
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出版日期 | 2006 |
卷号 | 55期号:5页码:2293 |
关键词 | terahertz wave reflection tomography imaging |
ISSN号 | 1000-3290 |
通讯作者 | Xi, ZJ (reprint author), Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Appl Phys, Shanghai 201800, Peoples R China |
学科主题 | Science & Technology - Other Topics; Materials Science; Physics |
收录类别 | SCI |
语种 | 英语 |
公开日期 | 2012-05-11 |
源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8302] ![]() |
专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Xi, ZJ,Xiao, TQ,Zhang, ZY,et al. Investigation on reflection tomography imaging with terahertz wave of nonparallel interfaces inside the sample[J]. ACTA PHYSICA SINICA,2006,55(5):2293. |
APA | Xi, ZJ,Xiao, TQ,Zhang, ZY,Chen, M,Yu, XH,&Xu.(2006).Investigation on reflection tomography imaging with terahertz wave of nonparallel interfaces inside the sample.ACTA PHYSICA SINICA,55(5),2293. |
MLA | Xi, ZJ,et al."Investigation on reflection tomography imaging with terahertz wave of nonparallel interfaces inside the sample".ACTA PHYSICA SINICA 55.5(2006):2293. |
入库方式: OAI收割
来源:上海应用物理研究所
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