TC4-DT合金电子束焊接接头低周疲劳性能研究
文献类型:期刊论文
作者 | 唐振云 ; 毛智勇 ; 李晋炜 ; 马英杰 |
刊名 | 航空制造技术
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出版日期 | 2011-08-15 |
期号 | 16页码:111-115+118 |
关键词 | TC4-DT 电子束焊接 显微组织 低周疲劳 |
中文摘要 | 通过对TC4-DT钛合金母材、电子束焊接接头显微组织的分析及焊接接头不同位置疲劳性能的测试,研究了焊接接头显微组织特点,比较了母材与焊接接头不同位置处的低周疲劳性能,讨论了不同应变水平下接头的断口形貌。结果表明,当疲劳应变幅Δεt/2小于0.6%时,TC4-DT钛合金母材与接头的疲劳寿命2Nf基本相同,当疲劳应变幅Δεt/2大于0.6%时,随着塑性变形应变幅的增大,母材与焊接板材上、下层处的2Nf差异逐渐明显,其中母材处的2Nf最高,焊接板材上层处的2Nf最低。 |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/23356] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 唐振云,毛智勇,李晋炜,等. TC4-DT合金电子束焊接接头低周疲劳性能研究[J]. 航空制造技术,2011(16):111-115+118. |
APA | 唐振云,毛智勇,李晋炜,&马英杰.(2011).TC4-DT合金电子束焊接接头低周疲劳性能研究.航空制造技术(16),111-115+118. |
MLA | 唐振云,et al."TC4-DT合金电子束焊接接头低周疲劳性能研究".航空制造技术 .16(2011):111-115+118. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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