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交流电作用下Au薄膜热疲劳失效行为的研究

文献类型:期刊论文

作者王鸣 ; 张滨 ; 刘常升 ; 张广平
刊名金属学报
出版日期2011-05-11
期号5页码:601-604
关键词Au薄膜 交流电 热疲劳
中文摘要本文研究了交流电致循环热应变作用下200 nm厚Au薄膜的失效行为.结合实验结果和理论计算,确定了交流电作用下6μm宽Au薄膜导线上的温度分布,并由此确定了Au互连线在交流电作用下达到稳定状态后的循环热应变范围.结果表明,应变范围△ε≤0.35%,经过5×10~6cyc热循环后,Au互连线中的晶粒出现不同程度的增长,晶界损伤导致Au互连线的最终失效.对Au薄膜热疲劳、机械疲劳失效行为及其机制进行了分析.
公开日期2012-04-12
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/23444]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
王鸣,张滨,刘常升,等. 交流电作用下Au薄膜热疲劳失效行为的研究[J]. 金属学报,2011(5):601-604.
APA 王鸣,张滨,刘常升,&张广平.(2011).交流电作用下Au薄膜热疲劳失效行为的研究.金属学报(5),601-604.
MLA 王鸣,et al."交流电作用下Au薄膜热疲劳失效行为的研究".金属学报 .5(2011):601-604.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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