用电子探针定量分析元素化学状态
文献类型:期刊论文
作者 | 王道岭 ; 孙爱芹 |
刊名 | 电子显微学报
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出版日期 | 2010-12-15 |
期号 | 6页码:527-529 |
关键词 | 电子探针 化学状态 定量分析 特征X射线 线性最小二乘计算 X射线光电子能谱 |
中文摘要 | 本文介绍了一种用电子探针波谱仪对元素化学状态进行定量分析的方法:分析元素不同化学状态相关特征X射线的差异,选取有代表性的波长值作为检测点采集一系列强度值,结合线性最小二乘计算,最终可得到单独一种价态的含量。电子探针具有微米级的空间分辨率和激发深度,在状态分析上可以成为X射线光电子能谱的有益补充。 |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/23575] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王道岭,孙爱芹. 用电子探针定量分析元素化学状态[J]. 电子显微学报,2010(6):527-529. |
APA | 王道岭,&孙爱芹.(2010).用电子探针定量分析元素化学状态.电子显微学报(6),527-529. |
MLA | 王道岭,et al."用电子探针定量分析元素化学状态".电子显微学报 .6(2010):527-529. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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