两种ITO靶材的比较研究
文献类型:期刊论文
作者 | 张滨 ; 孙玉珍 ; 王文皓 |
刊名 | 物理测试
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出版日期 | 2009-01-15 |
期号 | 1页码:17-21 |
关键词 | ITO靶材 AES XPS UPS SEM XRD |
中文摘要 | 针对一种进口和国产的ITO靶材,用AES(SEM、SAM)、XPS、UPS和XRD进行了比较研究,通过研究发现两种样品的差别,为提高国产靶材的质量,提供一些改进意见。 |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/24225] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张滨,孙玉珍,王文皓. 两种ITO靶材的比较研究[J]. 物理测试,2009(1):17-21. |
APA | 张滨,孙玉珍,&王文皓.(2009).两种ITO靶材的比较研究.物理测试(1),17-21. |
MLA | 张滨,et al."两种ITO靶材的比较研究".物理测试 .1(2009):17-21. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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