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两种ITO靶材的比较研究

文献类型:期刊论文

作者张滨 ; 孙玉珍 ; 王文皓
刊名物理测试
出版日期2009-01-15
期号1页码:17-21
关键词ITO靶材 AES XPS UPS SEM XRD
中文摘要针对一种进口和国产的ITO靶材,用AES(SEM、SAM)、XPS、UPS和XRD进行了比较研究,通过研究发现两种样品的差别,为提高国产靶材的质量,提供一些改进意见。
公开日期2012-04-12
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/24225]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
张滨,孙玉珍,王文皓. 两种ITO靶材的比较研究[J]. 物理测试,2009(1):17-21.
APA 张滨,孙玉珍,&王文皓.(2009).两种ITO靶材的比较研究.物理测试(1),17-21.
MLA 张滨,et al."两种ITO靶材的比较研究".物理测试 .1(2009):17-21.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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