316F不锈钢中MnS夹杂的电子显微学分析
文献类型:期刊论文
作者 | 刘超 ; 郑士建 ; 张波 ; 马秀良 |
刊名 | 电子显微学报
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出版日期 | 2008-08-15 |
期号 | 4页码:300-305 |
关键词 | 电子显微学 316F不锈钢 点蚀 硫化锰 氧化物 |
中文摘要 | 本文利用透射电子显微术,研究了SUS 316F不锈钢中MnS夹杂的结构和缺陷,发现并确定了MnS中的一种(Cr,Mn,Ti,V)O氧化物颗粒所属物相,并利用扫描透射电子显微镜(STEM)结合X射线能量色散谱(EDS),对MnS和不锈钢界面及MnS和氧化物颗粒的界面进行了成分分析,表明在MnS和不锈钢界面处不存在贫Cr区,在部分MnS和氧化物界面存在一层厚度为10 nm以下的氧化硅非晶层。 |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/24356] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘超,郑士建,张波,等. 316F不锈钢中MnS夹杂的电子显微学分析[J]. 电子显微学报,2008(4):300-305. |
APA | 刘超,郑士建,张波,&马秀良.(2008).316F不锈钢中MnS夹杂的电子显微学分析.电子显微学报(4),300-305. |
MLA | 刘超,et al."316F不锈钢中MnS夹杂的电子显微学分析".电子显微学报 .4(2008):300-305. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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