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表面机械研磨处理的纯铜拉伸形变机制

文献类型:期刊论文

作者邢长海,王科,刘刚,吴世丁
刊名材料研究学报
出版日期2005-10-25
期号5页码:531-536
关键词金属材料 表面机械研磨处理 变形机制 纯铜 扫描电子显微镜电子通道衬度(SEM-ECC)
中文摘要采用扫描电镜电子通道衬度技术(SEM-ECC)研究了表面机械研磨处理(SMAT)铜表面在室温拉伸的形变特征.结果表明:剪切带是纳米晶层、亚微晶层以及由位错胞组成的过渡层的共同形变特征,在不同的结构表层,剪切带的形貌略有差别.纳米晶层和亚微晶层内的剪切带主要为沿平面界面剪切滑动的结果,而过渡层的形变主要是以SMAT处理前的初始晶粒为单元发生的,剪切带的形成基本符合晶体学规律.
公开日期2012-04-12
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25243]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
邢长海,王科,刘刚,吴世丁. 表面机械研磨处理的纯铜拉伸形变机制[J]. 材料研究学报,2005(5):531-536.
APA 邢长海,王科,刘刚,吴世丁.(2005).表面机械研磨处理的纯铜拉伸形变机制.材料研究学报(5),531-536.
MLA 邢长海,王科,刘刚,吴世丁."表面机械研磨处理的纯铜拉伸形变机制".材料研究学报 .5(2005):531-536.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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