Bl-AlN/TiN(001)界面结构与电子特性
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈东,马秀良 |
| 刊名 | 电子显微学报
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| 出版日期 | 2005-08-25 |
| 期号 | 4页码:349 |
| 关键词 | AlN:6254 TiN:5397 界面结构:3620 电子特性:2904 超晶格:2200 高分辨像:1544 投影态密度:903 第一原理:870 赝势方法:857 平面波:814 |
| 公开日期 | 2012-04-12 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25301]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈东,马秀良. Bl-AlN/TiN(001)界面结构与电子特性[J]. 电子显微学报,2005(4):349. |
| APA | 陈东,马秀良.(2005).Bl-AlN/TiN(001)界面结构与电子特性.电子显微学报(4),349. |
| MLA | 陈东,马秀良."Bl-AlN/TiN(001)界面结构与电子特性".电子显微学报 .4(2005):349. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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