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透明导电薄膜在不同衬底上的性能对比研究

文献类型:期刊论文

作者陆峰,徐成海,闻立时,曹洪涛,裴志亮,孙超
刊名材料保护
出版日期2005-07-30
期号7页码:5-7+69
关键词ZAO薄膜 衬底 直流磁控溅射 性能 XRD衍射分析 电阻率 透射率
中文摘要为了对比研究不同透明衬底上ZnO:Al(ZAO)薄膜的性能,采用直流反应溅射法制备薄膜,并对其作EDS、XRD和电学测试分析。结果表明:所制备的ZAO薄膜具有典型的ZnO晶体结构;沉积在玻璃基片上的ZAO薄膜,Al,O含量高于沉积在透明聚酯塑料基片上的,而Zn的含量则相反;在两种衬底上获得的ZAO薄膜电阻率分别为4.5×10-4Ω?cm和9.73×10-4Ω?cm,可见光透射率分别达到87.7%和81.5%。由此可见:用直流反应磁控溅射法在不同衬底上都能获得可见光透射率达到80%以上的ZAO薄膜;相比而言,在玻璃衬底上获得的ZAO薄膜电阻率低,而在透明聚酯塑料上沉积的ZAO薄膜透射性好。
公开日期2012-04-12
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25325]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
陆峰,徐成海,闻立时,曹洪涛,裴志亮,孙超. 透明导电薄膜在不同衬底上的性能对比研究[J]. 材料保护,2005(7):5-7+69.
APA 陆峰,徐成海,闻立时,曹洪涛,裴志亮,孙超.(2005).透明导电薄膜在不同衬底上的性能对比研究.材料保护(7),5-7+69.
MLA 陆峰,徐成海,闻立时,曹洪涛,裴志亮,孙超."透明导电薄膜在不同衬底上的性能对比研究".材料保护 .7(2005):5-7+69.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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