纳米孪晶纯铜的强度和导电性
文献类型:期刊论文
作者 | 申勇峰,卢磊,陈先华,钱立华,卢柯 |
刊名 | 物理
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出版日期 | 2005-05-12 |
期号 | 5页码:344-347 |
关键词 | 纯铜 超高强度 导电性 纳米孪晶 |
中文摘要 | 强度和导电性是金属材料的两个至关重要的性能.常用的金属材料强化方式往往是在提高强度的同时使材料的导电性能明显损失.文章介绍了采用脉冲电解沉积技术制备出具有高密度孪晶片层结构的纯铜薄膜.这种具有纳米尺度的孪晶片层结构的纯铜材料不仅具有非常高的拉伸强度,同时还具有非常高的导电性.拉伸实验表明,当孪晶片层平均厚度小到15nm时,样品的拉伸屈服强度可达900MPa,断裂强度高达1068MPa(约为普通纯铜的10倍以上),并具有与无氧高导铜相当(97%IACS)的室温电导率. |
公开日期 | 2012-04-12 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25381] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 申勇峰,卢磊,陈先华,钱立华,卢柯. 纳米孪晶纯铜的强度和导电性[J]. 物理,2005(5):344-347. |
APA | 申勇峰,卢磊,陈先华,钱立华,卢柯.(2005).纳米孪晶纯铜的强度和导电性.物理(5),344-347. |
MLA | 申勇峰,卢磊,陈先华,钱立华,卢柯."纳米孪晶纯铜的强度和导电性".物理 .5(2005):344-347. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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